本低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標準IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低壓熔斷器第1部分:基本要求) 標準中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求,用于模擬熔斷器在嚴酷使用條件下,驗證長期運行中不受擾動的觸頭性能損壞情況。
主要技術參數(shù):
1. 設備輸出電壓:0~690V;
2. 設備輸出電流:0~5000A;
3. 通電時間:1~9999s;
4. 斷電時間:1~9999s;
5. 試驗樣品:3組;
6. 試驗循環(huán)次數(shù):1-800次可設置;
........
設備滿足標準:
低壓熔斷器觸頭性能測試臺*國家標準IEC60269-1:2009、GB13539.1-2015(低壓熔斷器第1部分:基本要求) 標準中第8.10章節(jié)“觸頭不變壞驗證”的試驗要求。